光譜分析儀的探測(cè)器是重要器件，探測(cè)器有一個(gè)重要的參數(shù)分辨率，但是，探測(cè)器除了分辨率是需要考慮的重要因素外，活性區(qū)大小和計(jì)數(shù)率也很重要。在實(shí)際應(yīng)用中，探測(cè)器的能量探測(cè)范圍、分辨率、探測(cè)器有效活性區(qū)、線性相應(yīng)范圍、鍍窗厚度等是選擇探測(cè)器時(shí)需要考慮的重要因素。事實(shí)上，分辨率、有效活性區(qū)和線性相應(yīng)范圍這三種因素正好相互制約。

光譜分析儀探測(cè)器參數(shù)的特點(diǎn)

       前置放大器噪聲主要由脈沖成型時(shí)間常數(shù)所決定，能量分辨率與脈沖成型時(shí)間常數(shù)的關(guān)系呈一種極小值曲線分布，故有時(shí)適當(dāng)選擇稍大的脈沖成型時(shí)間常數(shù)，可有較高的能量分辨率，但線性分析范圍可能會(huì)受到影響。當(dāng)希望保持計(jì)數(shù)率而需要窄脈沖寬度時(shí)，則可選擇具有較小脈沖成型時(shí)間常數(shù)的探測(cè)器。探測(cè)器的譜峰成型時(shí)間越短，線性相應(yīng)范圍越寬，但探測(cè)器的分辨率越低。例如譜峰成型時(shí)間為0.8us的線性相應(yīng)范圍約為20～40萬cps，分辨率為250eV，盡管諧峰成型時(shí)間為25.6us的探測(cè)器，其線性相應(yīng)范圍只有約為1萬~1.5萬cps，但分辨率則提高到優(yōu)于150eV。而探測(cè)器面積越小，譜峰成型時(shí)間越長，分辨率越高。面積越大，分辨率越差。故當(dāng)需要高計(jì)數(shù)率時(shí)，通常只能選用大面積的探測(cè)器。

       好的分辨率而偏重于微量元素分析。綜合與折中大概是通常的選擇。總之，在選擇探測(cè)器時(shí)，應(yīng)根據(jù)擬分析對(duì)象，綜合考慮分辨率、線性響應(yīng)范圍、探測(cè)器厚度及有效探測(cè)面積，權(quán)衡主、次、痕量元素分析范圍，有所側(cè)重，以達(dá)到有效滿足多數(shù)分析項(xiàng)目的目的。